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Analyse élémentaire par fluorescence X - 6

Plan

6 -- Bibliographie et liens

• 6.1 - Bibliographie
• 6.2 - Liens

En français :

• Analyse structurale et chimique des matériaux
  J.-P. Eberhart
  éd. Dunod (Paris), 1997
• Caractérisation expérimentale des matériaux - II
  J.-L. Martin et A. George
  vol. 3 de Traité des matériaux
  éd. Presses Polytechniques et Universitaires Romandes (Lausanne), 1998

En anglais :

• X-ray fluorescence spectrometry 2^nd ed.
  R. Jenkins
  vol. 152 in Chemical Analysis: A series of monographs on analytical chemistry and its applications (J. D. Winefordner editor)
  éd. Wiley Interscience, 1999

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Autres sites de présentation en français

• Ifremer (géologie marine)
  exemple d'analyse des roches pour expliquer l'hydrothermalisme (projet en collaboration avec un lycée)
• Laboratoire de recherche des musées de France (LRMF)
• Analyse associée à la microscopie électronique

Autres sites de présentation en anglais

• CHEMIN, spectromètre embarqué de la NASA (sonde Viking)
• Université de Ioannina (Grèce)
• UCF, cours de l'Université de Floride Centrale (États-Unis d'Amérique)
• learnXRF.com
• Mesure du plomb dans les os, Bone Lead Measurement Laboratory de Mount Sinai (États-Unis d'Amérique)
• ESRF, utilisation des rayons X produits par rayonnement synchrotron (Grenoble, France)
• UWA cours de l'Université d'Australie Occidentale
• Mesure de revêtement, p.ex. circuits imprimés (Alternate system)

Fabricants

Liste non exhaustive

• Bruker-AXS (ex-Siemens)
• EDAX
• Kratos (Shimadzu)
• Niton
• Omega Data System (logiciel Uniquant)
• Oxford instruments
• PANalytical (Spectris, ex-Philips)
• Rigaku
• Spectro
• Thermo ARL
• Warrington
• Liste de fabricants du site russe http://www.spectrometer.ru/

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